基本試驗：

　　絕緣電阻的測試通常用100V、250V、500V、1000V、2500V和5000V等兆歐表之一進行絕緣電阻的測試，絕緣電阻值的大小，能有效地反映絕緣的整體受潮、污穢以及嚴重過熱老化等缺陷。

　　泄漏電流的測試測量設(shè)備的泄漏電流和絕緣電阻本質(zhì)上沒有多大區(qū)別，但是泄漏電流的測量有如下特點：

　　通過測量泄漏電流和外加電壓的關(guān)系有助于分析絕緣的缺陷類型；

　　試驗電壓比兆歐表高得多，絕緣本身的缺陷容易暴露，能發(fā)現(xiàn)一些尚未貫通的集中性缺陷；

　　泄漏電流測量用的微安表要比兆歐表精度高。

　　交流耐壓試驗交流耐壓試驗對絕緣的考驗非常嚴格，能有效地發(fā)現(xiàn)較危險的集中性缺陷。它是鑒定電氣設(shè)備絕緣強度最直接的方法，對于判斷電氣設(shè)備能否投入運行具有決定性的意義，也是保證設(shè)備絕緣水平、避免發(fā)生絕緣事故的重要手段。

　　直流耐壓試驗直流耐壓試驗電壓較高，對發(fā)現(xiàn)絕緣某些局部缺陷具有特殊的作用，可與泄漏電流試驗同時進行。

　　三倍頻及工頻感應耐壓試驗對變壓器、電抗器等設(shè)備的主絕緣進行感應高電壓耐壓試驗，以考核繞組間、匝間絕緣耐壓能力。

　　介質(zhì)損耗因數(shù)tgd測試介質(zhì)損耗因數(shù)tgd是反映絕緣性能的基本指標之一。介質(zhì)損耗因數(shù)tgd反映絕緣損耗的特征參數(shù)，它可以很靈敏地發(fā)現(xiàn)電氣設(shè)備絕緣整體受潮、劣化變質(zhì)以及小體積設(shè)備貫通和未貫通的局部缺陷。

　　局部放電試驗由于絕緣材料本身的缺陷，在工作電壓下形成局部放電是造成絕緣老化并發(fā)展到擊穿的主要原因，因此檢測局部放電程度，可為決定和采取預防措施提供依據(jù)，故規(guī)程把局部放電作為高壓電氣設(shè)備絕緣試驗的項目之一。

　　接地電阻測試用接地電阻測試儀測試接地裝置的接地電阻值。按一般設(shè)計要求，針式接地極的接地電阻應小于4Ω；板式接地極的接地電阻不應大于lΩ。